Please use this identifier to cite or link to this item:
https://hdl.handle.net/10953.1/6738
Title: | El Riesgo Político en la Internacionalización Empresarial |
Authors: | Serrano Valcárcel, Juan |
metadata.dc.contributor.advisor: | Fuentes Lombardo, Guadalupe |
metadata.dc.contributor.other: | Universidad de Jaén. Organización de Empresas, Marketing y Sociología |
Abstract: | [ES]El trabajo trata de los diversos riesgos, en especial los políticos, que una empresa soporta al internacionalizarse, así como la procedencia y efectos de los mismos. Se muestran diferentes conceptos asociados al riesgo político y los tipos o clasificación de esos riesgos. Se indican las zonas con mayor y menor riesgo político del mundo y se analizan y describen algunos de los países con mayor riesgo. Se concluye con ejemplos de riesgos políticos sufridos por compañías españolas y se señalan datos de las exportaciones e inversiones de las empresas españolas en sus principales países de destino. [EN]The work deals with the various risks, especially the politicians, that a company supports when internationalizing, as well as the origin and effects of them. Different concepts associated with political risk and the types or classifications of these risks are shown. The areas with the greatest and least political risk in the world are indicated and some of the countries with the highest risk are analyzed and described. It concludes with examples of political risks suffered by Spanish companies and indicates data on exports and investments of Spanish companies in their main destination countries. |
Issue Date: | May-2017 |
Publisher: | Jaén: Universidad de Jaén |
Appears in Collections: | Grado en Administración y Dirección de Empresas |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
TFG_Riesgo_Politico_Juan_Serrano_Valcrcel.pdf | 350,21 kB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
This item is protected by original copyright |
Items in TAUJA are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.